第661章 光刻机的发展(2 / 2)

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突破生产瓶颈。

其实这时候的国内在前沿科技领域并不算特别落后,跟美苏之间的差距也不过是工业方面变现的生产能力。

就比如生产芯片的光刻机技术,就有包括华科、1445电子所、机电部45所等多家机构院所在研究。

这一时期主流上仍然使用的是接近式光刻机,这时期的掩模版不与硅片直接接触,而是在光刻机中加入测量工具,让两者间的距离尽量贴近。

但是光具有衍射性,会造成投影边缘模糊,进而造成精度下降、有较大的投影误差。

直到1974年美国PE推出投影式光刻机,把掩模版上的图形经过三次折射之后投射在硅片上,这样就能有效消除误差达到理想的分辨率,良品率直接从10%提高到70%以上。从而让芯片的价格大幅度下降。

后来在1978年GCA公司又推出DSW4800步进投影式光刻机,把掩模版上的图形缩小到原有的四分之一到五分之一,然后再投射到硅片上,一举提高了曝光强度和分辨率上限,让光刻机精度进入微米级。

而红星实验室在聂鹏飞的引导下,一开始的发展方向就是投影式,并且在机电部45所及后来的西山试验基地的配合下,实验性的造出了第一台投影式光刻机。

虽然各方面可能还不如后来PE推出的光刻机,而且良品率更是低到惨不忍睹的3%,但总归是走在正确的道路上。

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